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型號(hào)：X4 Poseidon
型號(hào)：D6 Phaser
型號(hào)：D8
型號(hào)：SKYSCAN 2214 CMOS版
型號(hào)：DPM100
型號(hào)：Skyscan1273
以用戶(hù)為中心 以人才為根本 努力實(shí)現(xiàn)你我共贏
束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司自成立以來(lái)，憑借與德國(guó)布魯克（BRUKER）、國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等國(guó)際實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作，迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。我們擁有一支積極樂(lè)觀(guān)，正直誠(chéng)信的年輕團(tuán)隊(duì)，我們熱忱的信仰科學(xué)，相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶(hù)帶來(lái)質(zhì)量較高的生活，為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。束蘊(yùn)儀器為各類(lèi)客戶(hù)提供完善的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過(guò)程控制設(shè)備，專(zhuān)業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，在中國(guó)大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶(hù)，如高校、科研院所、航空航天、國(guó)家機(jī)關(guān)、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)及工...
進(jìn)一步提高公司的技術(shù)、質(zhì)量和服務(wù)
在材料科學(xué)、地質(zhì)勘探、制藥工程、金屬加工等領(lǐng)域，材料的微觀(guān)晶體結(jié)構(gòu)直接決定其力學(xué)性能、化學(xué)活性、光學(xué)特性等核心指標(biāo)，是材料研發(fā)、質(zhì)量管控與性能優(yōu)化的關(guān)鍵依據(jù)。傳統(tǒng)微觀(guān)結(jié)構(gòu)檢測(cè)技術(shù)存在解析精度低、樣品適用性差、檢測(cè)效率低等痛點(diǎn)，難以滿(mǎn)足材料研發(fā)的精準(zhǔn)化需求。布魯克X射線(xiàn)衍射儀檢測(cè)依托X射線(xiàn)相干散射原理，通過(guò)精準(zhǔn)采集衍射信號(hào)并生成衍射圖譜，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料物相組成、晶格參數(shù)、結(jié)晶度、應(yīng)力狀態(tài)等微觀(guān)結(jié)構(gòu)信息的全面解析，廣泛應(yīng)用于新材料研發(fā)、礦物組成分析、藥物晶型確認(rèn)、金屬材料應(yīng)力評(píng)估等核...
在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、電子制造等領(lǐng)域，三維成像技術(shù)是解析樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)、探究物質(zhì)本質(zhì)的核心工具。傳統(tǒng)CT、光學(xué)顯微鏡、核磁共振成像（MRI）等技術(shù)雖已廣泛應(yīng)用，但在微納米級(jí)精細(xì)結(jié)構(gòu)觀(guān)測(cè)、樣品兼容性等方面存在諸多局限。微納米CT-高分辨率X射線(xiàn)三維成像系統(tǒng)憑借技術(shù)迭代優(yōu)勢(shì)，在成像精度、樣品損傷控制、檢測(cè)效率等關(guān)鍵維度實(shí)現(xiàn)突破，成為科研與精密檢測(cè)領(lǐng)域的優(yōu)選技術(shù)。以下詳細(xì)解析其相較于傳統(tǒng)成像技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，彰顯技術(shù)價(jià)值與應(yīng)用潛力。成像精度與細(xì)節(jié)呈現(xiàn)能力實(shí)現(xiàn)質(zhì)的飛躍，遠(yuǎn)超傳統(tǒng)CT與光學(xué)顯微...
在材料科學(xué)、冶金工程、電子半導(dǎo)體、生物醫(yī)藥等多個(gè)領(lǐng)域，衍射儀作為解析物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)、物相組成的核心設(shè)備，其樣品適配能力直接決定了應(yīng)用場(chǎng)景的廣度與檢測(cè)工作的效率。不少用戶(hù)在選型時(shí)都會(huì)關(guān)注：衍射儀的樣品適配范圍究竟有哪些？固體、粉末、薄膜這類(lèi)常見(jiàn)樣品是否都能檢測(cè)？下面將針對(duì)這一核心問(wèn)題展開(kāi)詳細(xì)解答，為各領(lǐng)域用戶(hù)的選型與檢測(cè)工作提供精準(zhǔn)參考。答案明確：專(zhuān)業(yè)衍射儀可實(shí)現(xiàn)固體、粉末、薄膜樣品的全適配檢測(cè)，同時(shí)覆蓋多種特殊形態(tài)樣品，適配范圍廣泛且檢測(cè)性能穩(wěn)定。其中，粉末樣品是衍射儀最常規(guī)的...
在醫(yī)院影像科，當(dāng)醫(yī)生開(kāi)具CT檢查單時(shí)，“高分辨率CT”與“平掃CT”這兩個(gè)名詞常常讓患者感到困惑。作為影像設(shè)備的核心，這兩者究竟有何不同？它們又如何為臨床醫(yī)生提供截然不同的“視野”？簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，你可以將平掃CT視為一次全面而高效的“戰(zhàn)略偵察”。它使用標(biāo)準(zhǔn)的掃描參數(shù)（通常層厚為5-10mm），在數(shù)十秒內(nèi)快速完成對(duì)整個(gè)目標(biāo)區(qū)域（如胸部、腹部）的廣覆蓋成像。它的核心優(yōu)勢(shì)在于速度快、范圍廣、輻射劑量相對(duì)可控，能高效地篩查出明顯的占位性病變、積液、骨折等重大問(wèn)題，是體檢、急診和絕大多數(shù)疾...
當(dāng)“X射線(xiàn)”這個(gè)詞出現(xiàn)在實(shí)驗(yàn)室設(shè)備的介紹中時(shí)，是否曾讓您心頭掠過(guò)一絲對(duì)輻射安全的隱憂(yōu)？今天，我們將為您理清一個(gè)關(guān)鍵認(rèn)知：廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、制藥研發(fā)與工業(yè)質(zhì)檢的X射線(xiàn)衍射儀，其輻射安全水平究竟如何？答案可能比您想象的更為安心。首先，直接回應(yīng)核心關(guān)切：根據(jù)國(guó)家《放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》，用于無(wú)損檢測(cè)和分析的X射線(xiàn)裝置有著嚴(yán)格的分類(lèi)與管理要求。常規(guī)的實(shí)驗(yàn)室級(jí)X射線(xiàn)衍射儀，因其設(shè)計(jì)上將射線(xiàn)嚴(yán)格限定在封閉的測(cè)角儀光路系統(tǒng)內(nèi)，通常被歸類(lèi)為低危害類(lèi)別射線(xiàn)裝置。其工作功率雖可達(dá)3-9kW，但所有...
在材料研發(fā)與化學(xué)分析的前沿戰(zhàn)場(chǎng)，鍵長(zhǎng)與鍵角是解讀物質(zhì)性能的核心密碼——它們決定了分子構(gòu)型、化學(xué)鍵強(qiáng)度，甚至材料的導(dǎo)電性、催化活性等關(guān)鍵特性。那么，如何精準(zhǔn)捕捉原子間的“親密距離”與空間夾角？答案就在X射線(xiàn)衍射儀(XRD)的“透視”能力中：作為材料結(jié)構(gòu)分析的核心設(shè)備，它不僅能測(cè)定鍵長(zhǎng)鍵角，更以原子級(jí)精度成為科研與工業(yè)領(lǐng)域的“結(jié)構(gòu)解碼師”。XRD測(cè)量鍵長(zhǎng)鍵角的原理，植根于晶體對(duì)X射線(xiàn)的相干散射現(xiàn)象。當(dāng)X射線(xiàn)照射晶體樣品時(shí)，原子規(guī)則排列的晶格會(huì)使射線(xiàn)發(fā)生衍射，形成特征衍射圖譜。通過(guò)...
在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、電子制造等領(lǐng)域，微觀(guān)結(jié)構(gòu)的立體形態(tài)與內(nèi)部缺陷直接決定材料性能與產(chǎn)品可靠性，X射線(xiàn)三維顯微鏡憑借“非破壞性成像+高分辨率三維重構(gòu)”核心技術(shù)，突破傳統(tǒng)二維檢測(cè)的局限，為科研與生產(chǎn)提供從表面到內(nèi)部的完整微觀(guān)結(jié)構(gòu)信息，成為洞察微觀(guān)世界的裝備。傳統(tǒng)微觀(guān)檢測(cè)技術(shù)如掃描電鏡（SEM）需對(duì)樣品進(jìn)行切片處理，易破壞樣品結(jié)構(gòu)且無(wú)法呈現(xiàn)內(nèi)部形態(tài)，而X射線(xiàn)三維顯微鏡基于“X射線(xiàn)吸收襯度+計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）”原理，實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè)：高能量X射線(xiàn)穿透樣品，不同密度區(qū)域?qū)射線(xiàn)的吸收...
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的精密制造鏈條中，晶圓檢測(cè)是保障芯片良率的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著芯片制程不斷向7nm及以下突破，對(duì)檢測(cè)技術(shù)的精度、效率提出了嚴(yán)苛要求。目前行業(yè)內(nèi)主流的晶圓檢測(cè)技術(shù)——光學(xué)檢測(cè)、電子束檢測(cè)及原子力顯微鏡檢測(cè)，憑借各自技術(shù)原理，在不同檢測(cè)場(chǎng)景中發(fā)揮著重要的作用，共同構(gòu)筑起晶圓質(zhì)量的“防護(hù)網(wǎng)”。光學(xué)檢測(cè)技術(shù)以“光的傳播與交互”為核心原理，是晶圓檢測(cè)中應(yīng)用廣泛的基礎(chǔ)技術(shù)。其本質(zhì)是通過(guò)高分辨率光學(xué)系統(tǒng)向晶圓表面發(fā)射特定波長(zhǎng)的光束，利用光的反射、折射、散射及干涉特性捕捉晶圓信息。當(dāng)光...
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